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A systematic approach to RTN parameter fitting based on the Maximum Current Fluctuation

Saraza-Canflanca, P.; Martín-Martínez, J.; Roca, E.; Castro-López, R.; Rodríguez, R.; Nafria, M.; Fernández, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Interuniversity Micro-Electronics Center at Leuven (Spain)
2Martín-Martínez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Castro-López, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Rodríguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Fernández, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)