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Monitorizacion automatica en tiempo real de equipos de prueba de semiconductores

Manuel José Moreno Lizaranzu; Federico Cuesta Rojo

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet002-04-2024

IDR año:

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CategoríaPosiciónCuartilPercentil

Año SPI:

2014

EditorialÁmbitoCategoríaPuntuaciónCuartilPosición
Universidade De VigoEspañaGeneral0Q427/27
EditorialPuntuación
Universidade de VigoMedio
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# Autor
1Manuel José Moreno Lizaranzu
2Federico Cuesta Rojo