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Challenges and solutions to the defect-centric modeling and circuit simulation of time-dependent variability

Martín-Martínez, Javier ; Díaz-Fortuny, Javier; Saraza-Canflanca, Pablo; Rodríguez, Rosana; Castro-López, Rafael; Roca, Elisenda; Fernández, Francisco V.; Nafria, Montserrat

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2023
Volumen: 2023-March
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus213-11-2024
wos229-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Martín-Martínez, Javier Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Díaz-Fortuny, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Saraza-Canflanca, PabloCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Interuniversity Micro-Electronics Center at Leuven (Spain)
4Rodríguez, RosanaUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
5Castro-López, RafaelUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Roca, ElisendaUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Fernández, Francisco V.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Nafria, MontserratUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)