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A Peak Detect & Hold circuit to measure and exploit RTN in a 65-nm CMOS PUF

Rubio-Barbero, F. J.; Camacho-Ruiz, E.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus029-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Rubio-Barbero, F. J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Camacho-Ruiz, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)