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Optimization-based bit selection technique to improve the reliability of PUFs

De Los Santos-Prieto, F.; Rubio-Barbero, F. J.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1De Los Santos-Prieto, F.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Rubio-Barbero, F. J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)