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Managing risk in semiconductor manufacturing: A stochastic predictive control approach

Zafra-Cabeza, Ascensión ; Ridao, Miguel A.; Camacho, Eduardo F.; Kempf, Karl G.; Rivera, Daniel E.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 15
Número: 8
Páginas: 969 - 984
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1421-12-2024
wos1121-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2007

Journal Impact Factor (JIF): 1.2630

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMSSCIE16/52Q2T1D3
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE62/227Q2T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,990

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS27/73Q2T2D463,70
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC92/306Q2T1D370,10

Año:

2011

CiteScore:

4,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Applied Mathematics21/381Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering53/589Q1T1D1
Computer Science Applications48/453Q1T1D2
Control and Systems Engineering20/188Q1T1D2

SJR año:

2007

Factor de Impacto:

1,086

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science Applications55/355Q1T1D2
Control and Systems Engineering23/163Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering73/529Q1T1D2
Applied Mathematics76/309Q1T1D3
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# Autor Afiliación
1Zafra-Cabeza, Ascensión Universidad de Sevilla (Spain)
2Ridao, Miguel A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Camacho, Eduardo F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Kempf, Karl G.Intel Corporation (United States)
5Rivera, Daniel E.Arizona State University (United States)