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On-chip evaluation of oscillation-based-test output signals for switched-capacitor circuits

Vazquez, D ; Huertas, G; Leger, G; Peralias, E; Rueda, A; Huertas, JL

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 33
Número: 2
Páginas: 201 - 211
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2221-12-2024
wos1621-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2002

Journal Impact Factor (JIF): 0.2040

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE42/46Q4T3D10
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE165/203Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,310

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE51/57Q4T3D911,40
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC226/306Q3T3D826,31

Año:

2011

CiteScore:

1,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films44/91Q2T2D5
Signal Processing44/67Q3T2D7
Hardware and Architecture95/134Q3T3D8

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

0,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Hardware and Architecture50/91Q3T2D6
Surfaces, Coatings and Films53/98Q3T2D6
Signal Processing30/40Q3T3D8
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# Autor Afiliación
1Vazquez, D Universidad de Sevilla (Spain)
2Huertas, GUniversidad de Sevilla (Spain)
3Leger, GUniversidad de Sevilla (Spain)
4Peralias, EUniversidad de Sevilla (Spain)
5Rueda, AUniversidad de Sevilla (Spain)
6Huertas, JLUniversidad de Sevilla (Spain)