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Oscillation-based test in oversampled Sigma Delta modulators

Huertas, G ; Vazquez, D; Peralias, E; Rueda, A; Huertas, JL

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 33
Número: 10
Páginas: 799 - 806
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2013-11-2024
wos2013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2002

Journal Impact Factor (JIF): 0.4570

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE115/203Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,370

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC214/306Q3T3D730,23
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY76/116Q3T2D734,91

Año:

2023

CiteScore:

4,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics101/224Q2T2D5
Condensed Matter Physics181/434Q2T2D5
Electrical and Electronic Engineering332/797Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials133/284Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films61/132Q2T2D5

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,390

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics117/210Q3T2D6
Condensed Matter Physics226/431Q3T2D6
Electrical and Electronic Engineering367/723Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials152/262Q3T2D6
Surfaces, Coatings and Films70/134Q3T2D6
Nanoscience and Nanotechnology50/77Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1Huertas, G CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Vazquez, DCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Peralias, ECSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Rueda, ACSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Huertas, JLCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)