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Applying the method of lines and discrete mode-matching method to non-planar structures

Mesa, Francisco ; Marqués, Ricardo; Medina, Francisco

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2003
Volumen: 37
Número: 2
Páginas: 79 - 83
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
wos013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2003

Journal Impact Factor (JIF): 0.50

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE126/205Q3T2D7
OPTICSSCIE44/53Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,350

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC216/306Q3T3D829,58
OPTICS79/106Q3T3D825,94

Año:

2011

CiteScore:

1,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering243/589Q2T2D5
Atomic and Molecular Physics, and Optics77/141Q3T2D6
Condensed Matter Physics196/383Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials98/183Q3T2D6

SJR año:

2003

Factor de Impacto:

0,630

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering134/455Q2T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics47/119Q2T2D4
Condensed Matter Physics149/341Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials64/148Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Mesa, Francisco Universidad de Sevilla (Spain)
2Marqués, RicardoUniversidad de Sevilla (Spain)
3Medina, FranciscoUniversidad de Sevilla (Spain)