Año: 2011
Journal Impact Factor (JIF): 0.7790
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | 12/21 | Q3 | T2 | D6 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 153/245 | Q3 | T2 | D7 |
OPTICS | SCIE | 55/79 | Q3 | T3 | D7 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,470
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 181/306 | Q3 | T2 | D6 | 41,01 |
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | 20/30 | Q3 | T2 | D7 | 35,00 |
OPTICS | 62/106 | Q3 | T2 | D6 | 41,98 |
Año:
2011
CiteScore:
1,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 258/589 | Q2 | T2 | D5 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 100/183 | Q3 | T2 | D6 |
Computer Vision and Pattern Recognition | 34/55 | Q3 | T2 | D7 |
Software | 233/357 | Q3 | T2 | D7 |
SJR año:
2011
Factor de Impacto:
0,257
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 307/629 | Q3 | T2 | D5 |
Computer Vision and Pattern Recognition | 36/58 | Q3 | T2 | D7 |
Software | 216/335 | Q3 | T2 | D7 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 128/189 | Q3 | T3 | D7 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
Junta de Andalucia Research Group FQM-296 | - |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Universidad de Sevilla (Spain) | |
2 | Jimenez, Maria Jose | Universidad de Sevilla (Spain) |
3 | Medrano, Belen | Universidad de Sevilla (Spain) |