Año: 2007
Journal Impact Factor (JIF): 1.1040
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 76/227 | Q2 | T1 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,840
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 110/306 | Q2 | T2 | D4 | 64,22 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Camuñas-Mesa, Luis Alejandro | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Serrano-Gotarredona, Maria Teresa | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Leñero-Bardallo, Juan Antonio | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Linares-Barranco, Bernabe | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |