Año: 1999
Journal Impact Factor (JIF): 0.8770
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 59/205 | Q2 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,070
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 79/306 | Q2 | T1 | D3 | 74,35 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Johns Hopkins University (United States) | |
2 | Linares-Barranco, Bernabe | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Johns Hopkins University (United States) |
3 | Andreou, Andreas | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Johns Hopkins University (United States) |