Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Equipment utilization tracking and improvement in semiconductor industry in probe and final test areas

Lizaranzu, Manuel J.Moreno; Rojo, Federico Cuesta

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2012
Volumen: 45
Número: 31
Páginas: 127 - 132
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus313-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Lizaranzu, Manuel J.MorenoFreescale Semiconductor (United States)
2Rojo, Federico CuestaUniversidad de Sevilla (Spain)