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Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría
A New Time Efficient Methodology for the Massive Characterization of RTN in CMOS Devices
Pedreira, G. ; Martin-Martinez, J.; Diaz-Fortuny, J.; Saraza-Canflanca, P.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Nafria, M.
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