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A non-invasive system for the measurement of the robustness of microprocessor-type architectures against radiation-induced soft errors

Guzmán-Miranda, H. ; Aguirre, M. A.; Tombs, J.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus413-11-2024
wos329-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2011

CiteScore:

1,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering328/589Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Guzmán-Miranda, H. Universidad de Sevilla (Spain)
2Aguirre, M. A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Tombs, J.Universidad de Sevilla (Spain)