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Automated Massive RTN Characterization Using a Transistor Array Chip
Saraza-Canflanca, P.; Diaz-Fortuny, J.; Toro-Frias, A.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Martin-Martinez, J.; Rodrigucz, R.; Nafria, M.; Fernandez, F. V.
CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
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