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Procedimiento de deposición de capas delgadas de estequiometría controlada sobre sustratos mediante pulverización catódica reactiva a ángulo rasante

Tipo: Patente
Titulares:
Abengoa Research S.L (50%)
Consejo Superior De Investigaciones Cientificas (50%)
Inventores:
Rico Gavira, Victor Joaquin
Rodriguez González-Elipe, Agustín
Palmero Acebedo, Alberto
Alcon-Camas, Mercedes
Guillén Rodríguez, María Elena
Solicitud
30-12-2015
Concesión
17-04-2018
Familia
ES2622461R1
Procedimiento de deposición de capas delgadas de estequiometría controlada sobre sustratos mediante pulverización catódica reactiva a ángulo rasante.El objeto de la invención se refiere a un procedimiento para la deposición de capas finas sobre un sustrato, basada en la técnica de pulverización catódica reactiva, con el objetivo de controlar la composición química del material depositado y, en paralelo, aumentar la tasa de deposición respecto a la que se obtendría mediante este procedimiento en su modo convencional de uso.Se consigue evitar el envenenamiento del cátodo mediante la determinación del valor crítico de flujo de gas reactivo en el reactor a partir del cual se produce dicho fenómeno y disponiendo el sustrato en una configuración geométrica respecto del cátodo de forma que las especies pulverizadas de este lleguen a la superficie del sustrato según un ángulo rasante promedio, medido respecto de esta, con valores comprendidos entre 0º y 85º.
Materia: Química; Metalurgia
CIP: C23C14/34 (2006.01); C23C14/54 (2006.01)