Año: 2008
Journal Impact Factor (JIF): 3.7260
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
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COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE | SCIE | 4/94 | Q1 | T1 | D1 |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | 2/45 | Q1 | T1 | D1 |
COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS | SCIE | 3/84 | Q1 | T1 | D1 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 10/229 | Q1 | T1 | D1 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); NXP Semiconductors Austria GmbH (Spain) | |
2 | Serrano-Gotarredona, Teresa | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Acosta-Jiménez, Antonio | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Serrano-Gotarredona, Clara | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Pérez-Carrasco, José A. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
6 | Linares-Barranco, Bernabé | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
7 | Linares-Barranco, Alejandro | Universidad de Sevilla (Spain) |
8 | Jiménez-Moreno, Gabriel | Universidad de Sevilla (Spain) |
9 | Civit-Ballcels, Antón | Universidad de Sevilla (Spain) |