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A DRV-based bit selection method for SRAM PUF key generation and its impact on ECCs

Santana-Andreo, A. ; Saraza-Canflanca, P.; Carrasco-Lopez, H.; Brox, P.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2022
Volumen: 85
Páginas: 1 - 9
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus315-06-2024
wos115-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2022

Journal Impact Factor (JIF): 1,9

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE40/54Q3T3D8
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE193/275Q3T3D8

Año: 2022

Journal Citation Indicator (JCI): 0,390

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE46/63Q3T3D827,78
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC239/352Q3T3D732,24

Año:

2022

CiteScore:

3,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering343/738Q2T2D5
Hardware and Architecture93/169Q3T2D6
Software226/404Q3T2D6

SJR año:

2022

Factor de Impacto:

0,386

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering359/733Q3T2D5
Hardware and Architecture101/164Q3T2D7
Software235/378Q3T2D7
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Agencia Código de Proyecto
AEIPID2019-103869RB-C31/AEI
MICINNBES-2017-080160; PRE-2020-093167
P.O. FEDERUS-1380876
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Santana-Andreo, A. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Carrasco-Lopez, H.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Brox, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
7Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)