Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Characterizing Aging Degradation of Integrated Circuits with a Versatile Custom Array of Reliability Test Structures

Santana-Andreo, A.; Martin-Lloret, P. ; Roca, E.; Castro-Lopez, R.; Fernandez, F. V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2022
Volumen: 2022-March
Páginas: 56 - 61
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus115-06-2024
wos008-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
Agencia Código de Proyecto
Consejeria de Economia, Conocimiento, Empresas y Universidad de la Junta de Andalucia-
ESF Investing in your future-
FEDERUS-1380876
MCIN/AEIPID2019-103869RB-C31; PRE-2020-093167
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Santana-Andreo, A.Universidad de Sevilla (Spain)
2Martin-Lloret, P. Universidad de Sevilla (Spain)
3Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
4Castro-Lopez, R.Universidad de Sevilla (Spain)
5Fernandez, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)