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Using multi-threshold threshold gates in RTD-based logic design: A case study

Pettenghi, Hector; Avedillo, María J. ; Quintana, José M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2008
Volumen: 39
Número: 2
Páginas: 241 - 247
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2429-10-2024
wos1729-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2008

Journal Impact Factor (JIF): 0.8590

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE132/229Q3T2D6
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE46/52Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,370

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC214/306Q3T3D730,23
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY76/116Q3T2D734,91

Año:

2023

CiteScore:

4,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics101/224Q2T2D5
Condensed Matter Physics181/434Q2T2D5
Electrical and Electronic Engineering332/797Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials133/284Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films61/132Q2T2D5

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,390

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics117/210Q3T2D6
Condensed Matter Physics226/431Q3T2D6
Electrical and Electronic Engineering367/723Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials152/262Q3T2D6
Surfaces, Coatings and Films70/134Q3T2D6
Nanoscience and Nanotechnology50/77Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1Pettenghi, HectorCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Avedillo, María J. Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Quintana, José M.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)