Año: 2013
Journal Impact Factor (JIF): 0,924
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 155/248 | Q3 | T2 | D7 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | 65/73 | Q4 | T3 | D9 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,370
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 214/306 | Q3 | T3 | D7 | 30,23 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 76/116 | Q3 | T2 | D7 | 34,91 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
ERDF | TEC2010-18937; TEC2011-28302 |
Ministerio de Economia y Competitividad del Gobierno de Espana | - |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Avedillo, María J. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Quintana, José M. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |