Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

A Test Module for Aging Characterization of Digital Circuits

Gata-Romero, J. M.; Santana-Andreo, A.; Roca, E.; Castro-Lopez, R.; Fernandez, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Gata-Romero, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Santana-Andreo, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)