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Reliability improvement of SRAM PUFs based on a detailed experimental study into the stochastic effects of aging

Santana-Andreo, A.; Saraza-Canflanca, P.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2024
Volumen: 176
Número de artículo: 155147
Acceso abierto: Vía híbrida
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2022

Journal Impact Factor (JIF): 3,2

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE118/275Q2T2D5
TELECOMMUNICATIONSSCIE50/88Q3T2D6

Año: 2022

Journal Citation Indicator (JCI): 0,800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC124/352Q2T2D464,92
TELECOMMUNICATIONS51/116Q2T2D556,47

Año:

2022

CiteScore:

7,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering127/738Q1T1D2

SJR año:

2022

Factor de Impacto:

0,757

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering191/696Q2T1D3
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# Autor Afiliación
1Santana-Andreo, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Saraza-Canflanca, P.Interuniversity Micro-Electronics Center at Leuven (Belgium)
3Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)