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Reliability improvement of SRAM PUFs based on a detailed experimental study into the stochastic effects of aging

Santana-Andreo, A.; Saraza-Canflanca, P.; Castro-Lopez, R. ; Roca, E.; Fernandez, F. V.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2024
Volumen: 176
Número de artículo: 155147
Acceso abierto: Vía híbrida
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus313-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2023

Journal Impact Factor (JIF): 3.0

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE136/353Q2T2D4
TELECOMMUNICATIONSSCIE53/119Q2T2D5

Año: 2023

Journal Citation Indicator (JCI): 0,790

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC135/355Q2T2D462,11
TELECOMMUNICATIONS56/119Q2T2D553,36

Año:

2023

CiteScore:

6,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering179/797Q1T1D3

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,714

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering208/723Q2T1D3
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# Autor Afiliación
1Santana-Andreo, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Saraza-Canflanca, P.Interuniversity Micro-Electronics Center at Leuven (Belgium)
3Castro-Lopez, R. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)