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Evaluation of metastability transfer models - an application to an n-bistable CMOS synchronizer

Bellido Díaz, Manuel Jesús; Acosta Jiménez, Antonio José; Luque Rodríguez, Joaquín; Barriga Barros, Ángel; Valencia Barrero, Manuel

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1995
Volumen: 79
Número: 5
Páginas: 585 - 593
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus321-12-2024
wos321-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0.2420

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE122/193Q3T2D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,290

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC231/306Q4T3D824,67

Año:

2011

CiteScore:

0,800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering362/589Q3T2D7

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,277

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering177/418Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Bellido Díaz, Manuel JesúsUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Acosta Jiménez, Antonio JoséUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Luque Rodríguez, JoaquínUniversidad de Sevilla (Spain)
4Barriga Barros, ÁngelUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Valencia Barrero, ManuelUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)