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ICs tester design and its effect on application in electronics laboratories

Potestad-Ordóñez, F. E.; Jimenéz-Fernández, C. J.; Gallardo-Soto, A.; Valencia-Barrero, M.; Baena-Oliva, C.; Parra-Fernández, P.; Tena-Sánchez, Erica

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Potestad-Ordóñez, F. E.Universidad de Sevilla (Spain)
2Jimenéz-Fernández, C. J.Universidad de Sevilla (Spain)
3Gallardo-Soto, A.Universidad de Sevilla (Spain)
4Valencia-Barrero, M.Universidad de Sevilla (Spain)
5Baena-Oliva, C.Universidad de Sevilla (Spain)
6Parra-Fernández, P.Universidad de Sevilla (Spain)
7Tena-Sánchez, EricaUniversidad de Sevilla (Spain)