Año: 2006
Journal Impact Factor (JIF): 0.4590
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 141/206 | Q3 | T3 | D7 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,290
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 231/306 | Q4 | T3 | D8 | 24,67 |
Año:
2011
CiteScore:
0,800
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 362/589 | Q3 | T2 | D7 |
SJR año:
2006
Factor de Impacto:
0,300
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 232/527 | Q2 | T2 | D5 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Bellido, M. J. | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Juan, J. | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Millán Calderón, Alejandro | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Ruiz-De-Clavijo, P. | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
6 | Ostúa, E. | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
7 | Viejo, J. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |