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Application of an explicit min-max MPC to a scaled laboratory process

Muñoz de la Peña, David ; Ramírez, D. R.; Camacho, Eduardo F.; Alamo, T.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 13
Número: 12
Páginas: 1463 - 1471
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2029-10-2024
wos1729-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2005

Journal Impact Factor (JIF): 0.7620

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMSSCIE19/46Q2T2D5
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE92/208Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,990

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS27/73Q2T2D463,70
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC92/306Q2T1D370,10

Año:

2011

CiteScore:

4,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Applied Mathematics21/381Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering53/589Q1T1D1
Computer Science Applications48/453Q1T1D2
Control and Systems Engineering20/188Q1T1D2

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

0,538

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Control and Systems Engineering35/143Q1T1D3
Electrical and Electronic Engineering146/504Q2T1D3
Computer Science Applications116/306Q2T2D4
Applied Mathematics151/282Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Muñoz de la Peña, David Universidad de Sevilla (Spain)
2Ramírez, D. R.Universidad de Sevilla (Spain)
3Camacho, Eduardo F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Alamo, T.Universidad de Sevilla (Spain)